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黑光輻照計 UVV420

NT$ 13,500.00
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高分子材料老化、探傷、LED紫外光源,圖解藝術、積體電路光刻、光化學匹配,

測量範圍:0-400 mW/cm2,
四檔位測量;400μW檔,4000μW檔,40mW檔,400mW檔(1000 μW/cm2 = 1 mW/cm2)
探測器的光譜:370nm 到470nm
(峰值420nm,50%以上透過率波段395 nm到450 nm)

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